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四探針方阻電阻率檢測儀適用于企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出。

四探針半導體電阻率測量儀參照標準： 1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

半導電低阻雙電四探針測試儀測量范圍:電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

增塑劑電阻測定儀同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結果經過A/D轉換后以數字顯示出電阻值。

半導電四探針電阻測試儀功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，最大分類10類。